Xbar-R控制图
1. Xbar-R控制圖
Xbar-R控制圖,可以在擁有連續(xù)數(shù)據(jù)且子組大小不超過8的情況下監(jiān)視過程的均值和變異。
例如:確定新塑料產(chǎn)品的生產(chǎn)過程是否受控。操作員抽樣20個(gè)小時(shí),每小時(shí)抽取5個(gè)部件,并評(píng)估塑料的強(qiáng)度。
什么情況下使用備擇控制圖?
對(duì)于具有9或更多觀測(cè)值的子組,使用Xbar-S控制圖。
如果子組內(nèi)存在一致的變異來源,使用I-MR-R/S控制圖。
如果沒有子組,使用I-MR控制圖。
如果數(shù)據(jù)有缺陷品數(shù)或缺陷數(shù),使用屬性控制圖,如P控制圖或U控制圖。
2. Xbar-R控制圖的數(shù)據(jù)注意事項(xiàng)
為了確保結(jié)果有效,請(qǐng)?jiān)谑占瘮?shù)據(jù)、執(zhí)行分析和解釋結(jié)果時(shí)考慮以下準(zhǔn)則。
1. 數(shù)據(jù)集應(yīng)當(dāng)連續(xù)
如果數(shù)據(jù)中有缺陷品數(shù)或缺陷數(shù),使用屬性控制圖,如P控制圖或U控制圖。
2. 數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)采用時(shí)間順序
由于控制圖檢測(cè)會(huì)隨時(shí)間發(fā)生的變化,因此數(shù)據(jù)順序非常重要。應(yīng)當(dāng)按照數(shù)據(jù)的收集順序來輸入數(shù)據(jù)。讓最舊得數(shù)據(jù)位于工作表的頂部。
3. 應(yīng)當(dāng)按照適當(dāng)?shù)臅r(shí)間間隔收集數(shù)據(jù)
按照均勻的時(shí)間間隔收集數(shù)據(jù),如每小時(shí)一次,每班次一次,每天一次。選擇一個(gè)時(shí)間間隔,該時(shí)間間隔應(yīng)當(dāng)足夠短,以便可以在發(fā)生過程更改之后立即識(shí)別此更改。
4. 數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)位于合理的子組中
如果子組不合理,則估計(jì)的控制限可能太寬。
5. 子組大小應(yīng)當(dāng)為8或更少
對(duì)于具有9或更多觀測(cè)值的子組,應(yīng)當(dāng)使用Xbar-S控制圖。
如果沒有子組,請(qǐng)使用 I-MR 控制圖。
6. 收集相應(yīng)的數(shù)據(jù)量
如果子組大小小于或等于2,至少收集100個(gè)觀測(cè)值。
如果子組大小為3,至少收集80個(gè)觀測(cè)值。
如果子組大小為4或5,至少收集70個(gè)觀測(cè)值。
如果子組大小為6或更大,至少收集60個(gè)觀測(cè)值。
7. 數(shù)據(jù)不必是正太分布的
大多數(shù)控制圖在形式上基于正太性假設(shè)的,但如果收集子組中的數(shù)據(jù),仍可以使用非正太數(shù)據(jù)得到好的結(jié)果。所需的子組大小取決于數(shù)據(jù)的非正太性。
8. 每個(gè)子組內(nèi)的觀測(cè)值不應(yīng)當(dāng)相互關(guān)聯(lián)
如果每個(gè)子組中的連續(xù)數(shù)據(jù)點(diǎn)是相關(guān)的,控制限的范圍將過窄,而且控制圖可能會(huì)錯(cuò)誤地將一些受控點(diǎn)顯示為失控點(diǎn)。
3. 估計(jì)Xbar-R控制圖的 σ 的方法和公式
σ 是標(biāo)準(zhǔn)差。如果為 σ 輸入歷史值,則 Minitab 將使用歷史值。否則,Minitab使用下列方法從數(shù)據(jù)估計(jì) σ。
1. Rbar方法
Minitab使用每個(gè)子組的極差 ri 計(jì)算 Sr ,它是 σ 的無偏估計(jì)量:
其中
當(dāng)子組大小固定時(shí),公式簡(jiǎn)化為以下所示:
其中,Rbar是子組極差的均值,計(jì)算方式為:
表示法:
| 項(xiàng) | 說明 |
| ri | 子組i的極差 |
| m | 子組數(shù) |
| d2(·) | 與括號(hào)中指定的值相對(duì)應(yīng)的五偏常量d2值 |
| ni | 子組i中的觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
| d3(·) | 與括號(hào)中指定的值相對(duì)應(yīng)的無偏常量d3值 |
2. 合并標(biāo)準(zhǔn)差方法
合并標(biāo)準(zhǔn)差 Sp 按一下公式計(jì)算:
當(dāng)子組大小固定時(shí),按以下方式計(jì)算 Sp:
使用無偏常量
默認(rèn)情況下,使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì) σ 時(shí),Minitab 將應(yīng)用無偏常量 c4():
偏倚
當(dāng)子組大小固定時(shí),可按以下方式計(jì)算無偏倚的 Sp:
偏倚
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| xij | 第i個(gè)子組中的第j個(gè)觀測(cè)值 |
| 子組i的均值 | |
| ni | 子組i中的觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
| μv | 子組方差的均值 |
| c4(·) | 與括號(hào)中指定的值相對(duì)應(yīng)的無偏常量c4值 |
| d | Sp的自由度,計(jì)算公式:∑(ni - 1) |
4. Xbar-R控制圖中Xbar控制圖的方法和公式
1. 描繪點(diǎn)
每個(gè)描繪點(diǎn)代表子組中觀測(cè)值均值(子組 i)。
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| xij | 第 i 個(gè)子組中的第 j 個(gè)觀測(cè)值 |
| ni | 子組 i 中的觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
2. 中心線
中心線代表過程均值(μ)。如果沒有指定歷史值,則 Minitab 使用數(shù)據(jù)的平均值 ,計(jì)算方式:
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| Σx | 所有單個(gè)觀測(cè)值的總和 |
| Σn | 總觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
3. 控制限
1. 控制下限(LCL)
每個(gè)子組 i 的控制下限值的計(jì)算方式:
2. 控制上限(UCL)
每個(gè)子組 i 的控制下限值的計(jì)算方式:
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| μ | 過程均值 |
| k | 檢驗(yàn) 1 的參數(shù)(默認(rèn)值為3) |
| σ | 過程標(biāo)準(zhǔn)差 |
| ni | 子組 i 中的觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
5. Xbar-R控制圖中 R 控制圖的方法和公式
1. 描繪點(diǎn)
每個(gè)描繪點(diǎn) ri 代表子組 i 的極差。
2. 中心線
每個(gè)子組的中心線的值的計(jì)算方式:
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| ni | 子組 i 中的觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
| d2(·) | 與括號(hào)中指定的值相對(duì)應(yīng)的無偏常量 d2 值 |
| σ | 過程標(biāo)準(zhǔn)差 |
3. 控制限
1. 控制下限(LCL)
每個(gè)子組的控制下限值 i 大于等于以下值:
或
LCLi = 0
2. 控制上限(UCL)
每個(gè)子組的控制上限值 i 的計(jì)算方式:
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| d2(·) | 與括號(hào)中指定的值相對(duì)應(yīng)的無偏常量d2值 |
| ni | 子組i中的觀測(cè)值個(gè)數(shù) |
| σ | 過程標(biāo)準(zhǔn)差 |
| k | 檢驗(yàn)1的參數(shù)(默認(rèn)為3) |
| d3(·) | 與括號(hào)中指定的值相對(duì)應(yīng)的無偏常量d3值 |
6. 無偏常量d2()、d3()、d4()
d2(N)是正太總體分布(標(biāo)準(zhǔn)差 = 1)中 N 觀測(cè)值的預(yù)期值。因此,如果 r 是正太分布(標(biāo)準(zhǔn)差 = σ)中 N 觀測(cè)值的樣本的極差,則E(r) = d2(N)σ。
d3(N)是正太分布(σ = 1)中 N 觀測(cè)值的極差的標(biāo)準(zhǔn)差。因此,如果 r 是正太分布(標(biāo)準(zhǔn)差 = σ)中 N 觀測(cè)值的樣本的極差,則stdev(r) = d3(N)σ。
可使用下表查找給定值 N 的無偏常量:
對(duì)于從51-100的 N 值,使用 d2(N)以下的近似值:
對(duì)于從26-100的N值,使用d3(N)和d4(N)的以下近似值:
7. 無偏常量c4()和c5()
C4()
C5()
表示法
| 項(xiàng) | 說明 |
| Γ() | Gamma函數(shù) |
總結(jié)
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