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应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流

發(fā)布時(shí)間:2023/12/1 综合教程 29 生活家
生活随笔 收集整理的這篇文章主要介紹了 应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流 小編覺得挺不錯(cuò)的,現(xiàn)在分享給大家,幫大家做個(gè)參考.

報(bào)告顯示,預(yù)計(jì)2013年全球LTE用戶將達(dá)到1.4億,2017年將達(dá)到9.2億。而TD-LTE用戶,到2016年將增加到1.5億戶,約占全球LTE用戶總數(shù)25%。在中國(guó)市場(chǎng)LTE智能手機(jī)有望在2013年逐步成熟,并在2014年走向大眾市場(chǎng)。

LTE?多頻段下?手機(jī)量產(chǎn)速度面臨挑戰(zhàn)

當(dāng)前終端產(chǎn)品支持的通信協(xié)議越來(lái)越多,LTE終端產(chǎn)品的測(cè)試項(xiàng)目比2G、3G多出近百項(xiàng)。不僅無(wú)線制式在增加,終端支持的頻段也在增加。這對(duì)生產(chǎn)測(cè)試提出了更高的要求,測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試時(shí)間達(dá)以前的數(shù)倍。測(cè)試時(shí)間的增加意味著測(cè)試成本的提高,促使芯片和終端廠商尋求減少產(chǎn)品測(cè)試時(shí)間與儀器投資成本的方法。

圖1 目前智能手機(jī)覆蓋的功能

在生產(chǎn)手機(jī)時(shí),傳統(tǒng)的信令測(cè)試每一臺(tái)手機(jī)都必須通過(guò)驗(yàn)證測(cè)試以及檢驗(yàn),非常耗費(fèi)時(shí)間。受于成本壓力,目前這類測(cè)試流程將逐漸從傳統(tǒng)的信令測(cè)試,轉(zhuǎn)型成非信令測(cè)試,再進(jìn)一步轉(zhuǎn)變成快速序列非信令測(cè)試。根據(jù)多家廠商的數(shù)據(jù),非信令生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間可加快50%以上,相信未來(lái)手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試模式將大舉從信令(Signaling)轉(zhuǎn)變至非信令(Non-signaling)。

圖2 信令測(cè)試、非信令測(cè)試、快速序列非信令測(cè)試對(duì)比圖

幫助終端制造商提升測(cè)試效率、降低測(cè)試成本,一直是測(cè)試與測(cè)量廠商追求的目標(biāo)。微波射頻網(wǎng)最近專訪了多家測(cè)試測(cè)量廠商,就非信令測(cè)試技術(shù)及趨勢(shì)進(jìn)行了廣泛的交流。

終端產(chǎn)品產(chǎn)測(cè)復(fù)雜化催生非信令測(cè)試

“盡管要市場(chǎng)完全接受非信令產(chǎn)測(cè)需要一個(gè)過(guò)程,但其一定是這個(gè)行業(yè)的發(fā)展方向。”
---艾法斯(亞洲)有限公司業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理路遙

艾法斯(亞洲)有限公司業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理路遙向微波射頻網(wǎng)介紹道,隨著4G技術(shù)引入多種無(wú)線技術(shù)于一身,未來(lái)的終端設(shè)備產(chǎn)測(cè)將越來(lái)越復(fù)雜,客戶面臨著巨大的測(cè)試成本壓力。當(dāng)前測(cè)試成本最直接的表現(xiàn)就是單機(jī)所需的測(cè)試時(shí)間,倘若仍保留信令的產(chǎn)測(cè)方式,其成本是客戶無(wú)法承受的,這就為引入非信令測(cè)試帶來(lái)了時(shí)機(jī)。

路遙指出,在Qualcomm的引領(lǐng)下,全球各主流蜂窩移動(dòng)通信芯片廠商均已支持非信令產(chǎn)測(cè)模式,包括:Broadcom、Marvell、Mediatek和ST-E等。同時(shí),幾乎所有的二三線芯片廠商都在積極跟進(jìn),這一點(diǎn)在LTE技術(shù)上體現(xiàn)的尤為明顯,如:GCT、Sequans、Intel/Infineon和Altair等。而在WIFI、Bluetooth和GPS等移動(dòng)互聯(lián)技術(shù)上,各大廠商早已將非信令模式引入生產(chǎn)環(huán)節(jié),包括Broadcom、Atheros、TI、Marvell和MTK/Ralink等等。而經(jīng)過(guò)幾年來(lái)在實(shí)際生產(chǎn)中的不斷檢驗(yàn)與改進(jìn),非信令技術(shù)已趨于完善。

路遙進(jìn)一步指出,在非信令測(cè)試上,儀表廠商也是越來(lái)越專注,并開始嘗試提供專門性的解決方案。

作為一家在射頻測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的專業(yè)公司,艾法斯為生產(chǎn)型客戶提供了非信令測(cè)試解決方案--PXI3000,這是一款基于PXI架構(gòu)通用射頻測(cè)試平臺(tái),該平臺(tái)不僅可以完美支持FDD/TDD-LTE相關(guān)的非信令測(cè)試,對(duì)其他最新的無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),如802.11ac等,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了全覆蓋。

據(jù)了解,傳統(tǒng)測(cè)試測(cè)量?jī)x器的功能是單一的,每一臺(tái)儀器只完成特定的功能,如信號(hào)源、頻譜儀和綜測(cè)儀等。而基于PXI架構(gòu)的測(cè)試儀器則完全不同,它是模塊化的,就如搭積木,用戶可以根據(jù)自己的實(shí)際需要,使用通用的PXI模塊搭建出各類功能豐富的儀器。

路遙表示,艾法斯利用PXI3000系列模塊為客戶預(yù)定制出功能強(qiáng)大、性能優(yōu)異的無(wú)線終端生產(chǎn)測(cè)試解決方案?;赑XI3000搭建的測(cè)試方案幾乎可以滿足用戶在無(wú)線終端生產(chǎn)環(huán)節(jié)所有的射頻測(cè)試需求。這一測(cè)試解決方案已經(jīng)得到了全球范圍內(nèi)的大規(guī)模商用,從全球頂級(jí)無(wú)線設(shè)備制造商到國(guó)內(nèi)中小型手機(jī)廠家均有使用。PXI3000進(jìn)入市場(chǎng),測(cè)試顛覆了傳統(tǒng)的生產(chǎn)測(cè)試?yán)砟?#xff0c;極大地推動(dòng)了生產(chǎn)測(cè)試向非信令方式的轉(zhuǎn)型。

最后,路遙強(qiáng)調(diào),盡管要市場(chǎng)完全接受需要一個(gè)過(guò)程,但非信令產(chǎn)測(cè)一定是這個(gè)行業(yè)的發(fā)展方向。

多DUT非信令測(cè)試提速生產(chǎn)制造流程

“多DUT并行非信令測(cè)試解決方案,能夠使終端客戶的效能,投資利用率得到極大地提升”
---萊特波特市場(chǎng)部技術(shù)經(jīng)理馬國(guó)華

萊特波特市場(chǎng)部技術(shù)經(jīng)理馬國(guó)華表示,如今主流的手機(jī)芯片商都紛紛推廣非信令測(cè)試方案,提高各自終端客戶產(chǎn)品的生產(chǎn)制造效能,降低終端產(chǎn)品的制造成本,同時(shí)保持良好地產(chǎn)品質(zhì)量。

馬國(guó)華告訴微波射頻網(wǎng)記者,如果采用傳統(tǒng)測(cè)試產(chǎn)品和方式,要想提高產(chǎn)出率,制造商只能去添置新測(cè)試設(shè)備或增加生產(chǎn)配套。然而,萊特波特為制造商提供了LitePoint IQxstream平臺(tái),能夠?qū)崿F(xiàn)4臺(tái)DUT(待測(cè)設(shè)備)同時(shí)并行測(cè)試,可將生產(chǎn)測(cè)試吞吐量提升3倍效率。IQxstream可以支持面向4G LTE 和LTE Advanced(超過(guò)100Mhz帶寬)所需要的更大帶寬,為生產(chǎn)測(cè)試領(lǐng)域長(zhǎng)期平滑演進(jìn)的需要提供了堅(jiān)實(shí)的支撐。四部終端并行測(cè)試的創(chuàng)新設(shè)計(jì)以及非信令測(cè)試技術(shù)的采用,使得廠商可在不縮減測(cè)試要求情況下極大地增加產(chǎn)出,不但極大地減少了所需測(cè)試儀的數(shù)量,而且也相應(yīng)大大減少了對(duì)于工廠空間和操作員數(shù)量的投入,有效地節(jié)約了成本。

馬國(guó)華分析,LTE帶來(lái)的挑戰(zhàn)主要來(lái)自于兩方面:更大的帶寬和更多的測(cè)試時(shí)間。LTE采用20MHz帶寬的數(shù)據(jù)信道,今后隨著LTE-Advanced技術(shù)的引入將擴(kuò)展至100Mhz帶寬的信道。這樣就淘汰了很多不具備足夠帶寬的3G測(cè)試儀。LTE可以支持40多個(gè)頻段,這樣支持LTE和WCDMA的多模終端(全球型手機(jī))將需要支持兩倍于當(dāng)前僅支持3G智能手機(jī)終端所需要的頻段數(shù)量。如此一來(lái),將使得測(cè)試手機(jī)所需時(shí)間翻倍,除非有更精良先進(jìn)的測(cè)試方案引入。IQxstream可以支持兩套并行的VSA/VSG模塊,可以輕易擴(kuò)展到多DUT的2X2 MIMO測(cè)試,以及LTE-A的載波聚合測(cè)試。目前LitePoint的IQVector測(cè)試解決方案可以覆蓋主流的LTE芯片,并提供產(chǎn)線級(jí)多DUT并行校準(zhǔn)和終測(cè)的解決方案。

馬國(guó)華補(bǔ)充道,LitePoint在國(guó)內(nèi)進(jìn)行IQxstream的推廣經(jīng)驗(yàn)也表明,多DUT并行非信令測(cè)試方案是規(guī)模非信令測(cè)試的發(fā)展方向。在LitePoint進(jìn)行多DUT非信令測(cè)試方案推廣過(guò)程中,越來(lái)越多的儀表廠商也加入了多DUT并行測(cè)試的潮流,紛紛推出對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表加入非信令多DUT測(cè)試推廣的大潮中。LitePoint堅(jiān)定認(rèn)為,多DUT非信令測(cè)試,尤其是有完備測(cè)試解決方案的多DUT并行非信令測(cè)試解決方案,能夠使終端客戶的效能,投資利用率得到極大地提升。

非信令測(cè)試優(yōu)勢(shì)明顯??但仍離不開信令模式

“在非信令測(cè)試?yán)砟钕氯噪x不開信令模式?”
---羅德與施瓦茨(R&S)產(chǎn)品支持總監(jiān)金海良

羅德與施瓦茨(R&S)產(chǎn)品支持總監(jiān)金海良表示,手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試正面臨越來(lái)越多的通信制式和頻段與越來(lái)越低的銷售價(jià)格之間的矛盾。若要兼顧完整測(cè)試項(xiàng)目與成本因素,就得改變產(chǎn)測(cè)儀器的使用方式。為此,R&S率先提出了許多提高生產(chǎn)測(cè)試效率的理念,如并行測(cè)試、快速校準(zhǔn)、快速終測(cè)和非信令測(cè)試。這些技術(shù)已經(jīng)逐步應(yīng)用到生產(chǎn)測(cè)試中。

R&S大約在8、9年前跟一些芯片和手機(jī)廠商合作首次提出了非信令生產(chǎn)測(cè)試的概念,2006年R&S率先推出了非信令版本的CMU200(var. 30型號(hào)),并被許多國(guó)際手機(jī)廠商采用。正是因?yàn)檫@一點(diǎn),新一代綜測(cè)儀CMW500剛推出時(shí)就全面支持非信令,為了適應(yīng)不同的需求,該儀器既能支持信令也能支持非信令,而且兼顧創(chuàng)新和傳統(tǒng)的測(cè)試方法。

金海良解釋,由于在信令模式下測(cè)試射頻指標(biāo)比在非信令下耗時(shí),非信令測(cè)試的宗旨是把大量重復(fù)的射頻指標(biāo)測(cè)試從信令模式移到非信令模式下測(cè)試。傳統(tǒng)的手機(jī)測(cè)試分射頻校準(zhǔn)和最終測(cè)試兩站,前者在非信令模式下校準(zhǔn)手機(jī)的收發(fā)信機(jī),后者在信令模式下測(cè)試手機(jī)的射頻指標(biāo)。非信令測(cè)試?yán)砟钤诋?dāng)中插了一站而變?yōu)槿?#xff1a;射頻校準(zhǔn)、射頻驗(yàn)證和最終測(cè)試。射頻指標(biāo)的測(cè)試從以往的最終測(cè)試站移到新增加的射頻驗(yàn)證站。該站在非信令模式下以更優(yōu)化的測(cè)試順序完成以往在信令下的射頻指標(biāo)測(cè)試。在產(chǎn)線,射頻校準(zhǔn)和射頻驗(yàn)證可以并成一站,因?yàn)檫@兩站都是基于手機(jī)電路板連接射頻頭進(jìn)行測(cè)試。之后電路板被裝配成整機(jī),再進(jìn)行最終測(cè)試。最終測(cè)試往往是在信令模式下用天線耦合測(cè)試,以模擬真實(shí)網(wǎng)絡(luò)的情況,重點(diǎn)驗(yàn)證信令過(guò)程和確保裝配成整機(jī)時(shí)耳麥和天線安裝正常。

值得一提的是,當(dāng)從信令模式轉(zhuǎn)為非信令模式時(shí),儀器跟芯片廠商的配合會(huì)成為關(guān)鍵點(diǎn)。因?yàn)樵谛帕钅J较戮C測(cè)儀模擬基站與被測(cè)手機(jī)建立呼叫后進(jìn)行射頻測(cè)試,對(duì)芯片配合的依賴程度低;而在非信令模式下因?yàn)闆]有信令過(guò)程因此對(duì)芯片配合的依賴程度很高。CMW500得到了所有LTE芯片廠商的支持,不論采用哪家芯片方案,都能用CMW500進(jìn)行非信令測(cè)試。

另外,即便是提倡非信令測(cè)試的今天,生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)還是需要信令的。為什么非信令測(cè)試?yán)砟钕氯匀浑x不開信令模式?金海良告訴微波射頻網(wǎng)記者,原因是非信令不能完全模擬真實(shí)網(wǎng)絡(luò)的情況。非信令跳過(guò)了高層協(xié)議,直接控制手機(jī)的物理層來(lái)進(jìn)行收發(fā)信機(jī)測(cè)試,不過(guò)由于移動(dòng)通信協(xié)議的復(fù)雜性,在實(shí)現(xiàn)的時(shí)候可能產(chǎn)生細(xì)微的差異,因此:

1、 新通信制式的早期生產(chǎn)基本都不采用非信令理念。本來(lái)新制式下芯片和終端的成熟穩(wěn)定度就有待驗(yàn)證,況且非信令和信令下終端行為可能有細(xì)微差別,為了穩(wěn)妥起見,新制式下終端生產(chǎn)都采用傳統(tǒng)的兩站式而不用非信令的三站式測(cè)試,等后續(xù)產(chǎn)品成熟了再逐漸引入非信令模式。不論是2G、3G還是現(xiàn)在的LTE終端,基本都是采用這一平滑過(guò)渡思路。

2、 當(dāng)產(chǎn)品成熟穩(wěn)定后,可以采用非信令的三站式測(cè)試,把大量的射頻指標(biāo)測(cè)試移到基于非信令的射頻驗(yàn)證站,但是為了檢驗(yàn)出廠的手機(jī)在真實(shí)網(wǎng)絡(luò)下的表現(xiàn),在第三站最終測(cè)試站仍然采用信令模式。

總體來(lái)說(shuō),非信令測(cè)試的三站式理念結(jié)合信令和非信令的優(yōu)勢(shì),把射頻指標(biāo)盡量移到非信令模式下測(cè)試,并優(yōu)化測(cè)試順序和方法,是在確保產(chǎn)品質(zhì)量的前提下降低成本提高生產(chǎn)效率的好方法,目前已經(jīng)被國(guó)內(nèi)外各大手機(jī)廠商所采用。但是需要注意的是,在非信令測(cè)試?yán)砟钕?#xff0c;信令綜測(cè)儀仍然起著不可替代的作用。

非信令測(cè)試將逐漸成主流

“產(chǎn)業(yè)鏈的合作是非信令測(cè)試成功的先決條件”
---安捷倫電子儀器事業(yè)部高級(jí)市場(chǎng)工程師黃萍

安捷倫電子儀器事業(yè)部高級(jí)市場(chǎng)工程師黃萍在接受微波射頻網(wǎng)專訪時(shí)表示,目前移動(dòng)設(shè)備中的無(wú)線功能主要包括2G/3G/LTE、藍(lán)牙、Wi-Fi和GPS。從終端生產(chǎn)測(cè)試市場(chǎng)看,為了追求更快的測(cè)試速度,芯片廠商不斷更新芯片測(cè)試模式,同時(shí)測(cè)試設(shè)備廠商與之配合讓手機(jī)的測(cè)試模式和綜測(cè)儀能協(xié)同工作,從而最終在產(chǎn)線上實(shí)現(xiàn)產(chǎn)能最大化。因此,產(chǎn)業(yè)鏈的合作是非信令測(cè)試成功的先決條件。在芯片支持的前提下,非信令測(cè)試能夠有效提高測(cè)試速率,已經(jīng)成為許多生產(chǎn)制造廠商的必要選擇。這是產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展的必然趨勢(shì)。

黃萍解釋,在非信令測(cè)試中,待測(cè)設(shè)備(DUT)的芯片組在驗(yàn)證測(cè)試中會(huì)被要求輸出跨越不同功率等級(jí)和頻率范圍的各種信號(hào),這些預(yù)定義發(fā)射序列功能可以規(guī)范校準(zhǔn)測(cè)試,縮減器件設(shè)置時(shí)間,進(jìn)而縮減測(cè)試時(shí)間。

目前安捷倫終端非信令測(cè)試產(chǎn)品支持所有2G/3G和LTE的無(wú)線蜂窩制式,同時(shí)還可以方便的進(jìn)行GPS的測(cè)量。根據(jù)不同的產(chǎn)測(cè)需求,安捷倫推出了非信令測(cè)試產(chǎn)品E6607 EXT系列,其中包括單機(jī)綜測(cè)儀E6607B、多端口測(cè)試適配器E6617A,以及最新推出的整合式多端口綜測(cè)儀E6607C,不同客戶可根據(jù)其產(chǎn)線的不同配置需求進(jìn)行選擇。

以E6607C EXT-C為例,它內(nèi)置了矢量信號(hào)分析、矢量信號(hào)發(fā)生、高速序列分析功能和 8個(gè)用于無(wú)線蜂窩制式的雙向輸入/輸出端口以及 4 個(gè)用于GNSS(全球?qū)Ш叫l(wèi)星系統(tǒng))測(cè)試的輸出端口,由于多端口并行測(cè)試裝置已經(jīng)緊湊的集成在儀器內(nèi)部,因此大大省去了繁雜的連接附件和復(fù)雜的連接工作,有效提高測(cè)試速率,同時(shí)又能節(jié)省生產(chǎn)線的空間和電力需求。為了在多部終端并行測(cè)量時(shí)也獲得高質(zhì)量的非信令測(cè)試,儀器內(nèi)部的校準(zhǔn)模塊保證了各端口間的平衡度,動(dòng)態(tài)路損補(bǔ)償功能自動(dòng)消除了全信號(hào)通路和外部測(cè)試線纜及夾具給測(cè)量帶來(lái)的影響,從而保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和一致性。

利用安捷倫信號(hào)分析儀的各項(xiàng)豐富的 X 系列測(cè)量技術(shù),EXT系列為客戶提供了專為快速生產(chǎn)制造測(cè)試而設(shè)計(jì)的測(cè)量應(yīng)用軟件,并針對(duì)最新無(wú)線芯片組中實(shí)施的快速序列非信令測(cè)試模式,可以與芯片組同步工作,消除信令開銷,實(shí)現(xiàn)單次采集多次測(cè)量。

“非信令測(cè)試是手機(jī)產(chǎn)業(yè)和測(cè)試儀表產(chǎn)業(yè)發(fā)展的必然趨勢(shì)”
---上海創(chuàng)遠(yuǎn)儀器副總裁徐逢春

上海創(chuàng)遠(yuǎn)儀器副總裁徐逢春向微波射頻網(wǎng)表示,手機(jī)的非信令測(cè)試,是近兩年逐步在產(chǎn)業(yè)界得到推廣的測(cè)試技術(shù),是測(cè)試儀表公司和手機(jī)方案公司共同努力的結(jié)果,極大地提升了手機(jī)測(cè)試的速度和穩(wěn)定性,提高了生產(chǎn)效率。

為全面支持手機(jī)產(chǎn)業(yè)對(duì)非信令測(cè)試的需求,創(chuàng)遠(yuǎn)推出了T6280全制式手機(jī)綜測(cè)儀和T6281手機(jī)序列測(cè)試接口開關(guān)。T6280全制式終端綜合測(cè)試儀支持LTE(TDD/FDD)/WCDMA/TD-SCDMA/GSM等主流通信制式的信令/非信令測(cè)試功能,由于采用了業(yè)界領(lǐng)先的分布式系統(tǒng)架構(gòu),非信令測(cè)試速度達(dá)到業(yè)界領(lǐng)先水平。T6280采用專用的自動(dòng)增益控制(AutoScale)技術(shù),可以在一次測(cè)量中對(duì)手機(jī)的整個(gè)動(dòng)態(tài)功率(通常為-65dBm~+27dBm)進(jìn)行自動(dòng)匹配和測(cè)量,達(dá)到最優(yōu)化的測(cè)試精度和測(cè)試速度。

隨著手機(jī)單位測(cè)試時(shí)間的降低,手機(jī)生產(chǎn)線上操作員裝卸測(cè)試終端所占用的終測(cè)儀開銷越來(lái)越大,導(dǎo)致生產(chǎn)過(guò)程中昂貴的綜測(cè)儀表的空閑時(shí)間占比增加,為了解決該問(wèn)題,創(chuàng)遠(yuǎn)開創(chuàng)性地推出了T6281手機(jī)序列測(cè)試接口開關(guān),可以對(duì)已有的手機(jī)生產(chǎn)線進(jìn)行簡(jiǎn)單改造,即可提升手機(jī)綜測(cè)儀的使用率接近100%,并極大提升人均的產(chǎn)出。

徐逢春分析,非信令測(cè)試是手機(jī)產(chǎn)業(yè)和測(cè)試儀表產(chǎn)業(yè)發(fā)展的必然趨勢(shì),手機(jī)生產(chǎn)線上使用的手機(jī)綜測(cè)儀,將很快統(tǒng)一到非信令的模式。通過(guò)采用非信令測(cè)試,不僅儀器儀表的開支能夠有可觀的降低,更重要的是可以提高手機(jī)的測(cè)試速度和測(cè)試穩(wěn)定性,由此可以為手機(jī)生產(chǎn)線帶來(lái)人工、場(chǎng)地、供電等一系列配套開支的節(jié)省。

“預(yù)計(jì)到今年,非信令測(cè)試將成主流測(cè)試方式。非信令測(cè)試市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)也趨向白熱化?!?br /> ---安立公司產(chǎn)品經(jīng)理蔣大勃

安立公司產(chǎn)品經(jīng)理蔣大勃表示智能終端和平板電腦取得了巨大成功,在生產(chǎn)線上需要對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行快速的測(cè)試。同時(shí),無(wú)線通信制式也在不斷的演進(jìn)和發(fā)展,導(dǎo)致通信標(biāo)準(zhǔn)多樣化。非信令測(cè)試和傳統(tǒng)的信令測(cè)試相比,測(cè)試時(shí)間短,效率高。隨著芯片技術(shù)的成熟,近兩年以來(lái),手機(jī)測(cè)試市場(chǎng)從傳統(tǒng)的信令測(cè)試開始向非信令測(cè)試演進(jìn)。

為了滿足目前產(chǎn)線測(cè)試需求,安立公司推出了MT8870A 通用無(wú)線測(cè)試儀。該儀表可以支持多種無(wú)線標(biāo)準(zhǔn),包括GSM/WCDMA/TDSCDMA/CDMA/LTE 和BT /WLAN,還可以支持FM RDS,GPS,DVB等。頻率范圍可達(dá)6GHz,160M帶寬,滿足了當(dāng)前和以后的測(cè)試需求。MT8870A采用模塊化設(shè)計(jì)思想,可以安裝多至4個(gè)TRX模塊,具備同時(shí)測(cè)試多臺(tái)設(shè)備的能力,可大幅提高產(chǎn)線效率并降低成本。

蔣大勃認(rèn)為,目前大多數(shù)廠家都已經(jīng)采用非信令測(cè)試方案。預(yù)計(jì)到今年,非信令測(cè)試將成主流測(cè)試方式。非信令測(cè)試市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)也趨向白熱化。

綜上所述,在LTE終端設(shè)備產(chǎn)測(cè)過(guò)程中采用非信令測(cè)試模式,可以顯著提高測(cè)試效率并降低測(cè)試成本,使得LTE終端設(shè)備制造商大為受益。而且,終端制造商仍可持續(xù)改良這些技術(shù),實(shí)現(xiàn)更快、更具成本效益的測(cè)試方式。隨著LTE時(shí)代的到來(lái),非信令測(cè)試正逐漸成熟,并將成為主流生產(chǎn)測(cè)試方式。

本文來(lái)源微波射頻網(wǎng) 原文鏈接:http://www.mwrf.net/news/marketwatch/2013/10938.html

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流的全部?jī)?nèi)容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問(wèn)題。

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