文章目錄

• General ATPG Flow
• ATPG DRC
• • example clock to data
• ATPG setting
• delay test的兩種方法
• • single capture
  • double capture
• Coverage Analysis
• • Fault class
  • coverage how to caculate
  • report faults
• Coverage Analysis

本博文是博主記錄DFT實訓教程的筆記版本，此筆記并沒有對所有的知識進行記錄，僅僅以自身的認知水平，來記錄了一些部分筆記并加上了自己的理解.

General ATPG Flow

ATPG DRC

• scan chain tracing
  第一步ATPG就是要去判斷scan chain 的tracing，判斷這個chain在shift過程中是否通暢。
  如果發現不通，會報告S級別的violation。
  只有chain能夠正常工作了，后續的工作才有意義。這里的scanchain tracing主要是指的是shift里面能否正常的work。

• Clock rule checking
  1、capture clock
  2、clock to D
  在scan chain 通順了之后，ATPG就需要去考量converage能否達標。
  除了shift階段需要打通以外，要注意capture階段也需要正確的抓到值。所以，這里的clock rule check指的是capture階段，cell能不能正確的值鎖存下來。另外check clock對converage的影響，其中具有代表性的是clock to D的Design rule。比如C1，C2等

• Data rule checking
  另外還有Data的check，當shift完成了之后，相當于PPI此時已經賦值好了，接下來再capture的過程，這個時候，我們有一個scan enable拉低，稍后拉高的一段過程，在這樣的過程的切換里面，有可能破環掉scan chain里面存儲的值。data rule check指的是在shiftin完成之后，以及shiftout開始之前，這些cell能不能保持值，是否可能會被破壞掉，比如D1 D2等violation。

不同等級的violation，error級別的必須要fix，產生出來的parttern是不work的。warning級別的可能會導致converage降低。

• Bus contention
  某一個點能夠被多個driver來驅動，有多個驅動源?？赡墚a生短路情況。

• compress/power aware rules

ATPG在產生parttern時候大概會有以上幾個check

example clock to data

如下圖所示，如果是下面這種設計，clk不僅僅連接到了clk而且連接到了data端口，這種電路結構也稱之為clock as data，此時在D端口的PPO就是不確定的，可能為0，可能為1。ATPG就會把設置為X，從而前面的組合邏輯的fault就無法測試到。但如果D端口的值不受CLK的變化影響，還是能測到部分fault的。

ATPG setting

• Fault model
• Fault list
• Specify capture procedure for delay testing
• ATPG constraints
• ATPG limitation(pattern/converage/abort)
  1、Fault model需要給工具指定根據怎樣的fault model來產生parttern
  2、Fault list 在某些場景下，我只想看看一個點上的fault，或者我只想看看這個micro的fault converage, 或者說我不想ATPG cover ram\anologo方面的。所以我使用no add fault，告訴工具ATPG不要把這些計算到converage里面。
  3、Specify catpture procedure for delay testing
  DC指的是SAF測試，AC指的是AT Speed測試
  4、ATPG constraints 由于我們的IO上面有一些test相關的IO，比方說這個design要保持在test模式下面等一些port，（TE），如果你沒有告訴工具這個port始終為1的話，工具可能會對其賦值0導致錯誤。
  5、ATPG limitation(pattern/converage/abort)
  比如能否先約束工具，只產生100條pattern，然后給我，然后你繼續產生。
  針對converage，產生95%就可以啦
  abort，在推斷某一條pattern的過程中，可以告訴工具，比如嘗試推斷pattern 20次就不推斷了。

delay test的兩種方法

single capture

該方法利用最后一個shift來產生transition從而測量delay test
也就是說利用最后一個shift來產生transition。
好處是利用shift就能產生transiton，實現賦值。賦值上非常容易。而對于double capture來說，如果要實現transition的話，需要PPO前面的logic的推導，難度更大。
但是single capture卻很少使用，因為要實現在最后一個shift后，希望se立即拉低打出clk，非常困難。換句話說，se很難在一個高頻的clk時間范圍內拉低。
我們知道一個芯片只有一個scan enable,這個scan enable要傳到所有的scan FF上面去，fanout非常大，所以scan enable需要的時間來穩定。但是single capture由于可以很好的推出transition的值，所以converage會更高。而double capture由于前面logic的限制可能推不出transition的值。

double capture

Coverage Analysis

Fault class

工具會對Fault進行分類，以及report出來的細節可以幫助我們更好地分析converage低的原因

1、UT（UU/TI/BL/RE） 2、TE（DT/PD/AU/UD）

1、是指UT：untestable 由于電路的設計結構無法推出parttern
UU： unused 沒有用的一類design，比如一些點處于float狀態。
TI： Tie cell、Tie 0、Tie 1 ,在做physical的時候，會把這些1’b1、1‘b0轉換為tie 1 cell或者tie 0 cell，因此對于這種cell，你只能檢測他是否被sta到了相反值，比如tie1 cell你不能檢測他是否被tie1了。

BL：代表block，意思是被block住了，比如一個與門，一端為0，另一端就沒辦法檢測。
RE：redundant冗余邏輯，代表我們有某些原因，design里面有一部分冗余的邏輯，這些path永遠不會有數據的傳遞，所以也不會去考慮。
2、是指TE：testable
DT：確定能cover的這些fault
PT：potential testable也就是潛在的可能被detect的fault
AU：ATPG untestable就是ATPG里面沒有辦法推出pattern，但是無法證明這個fault不能untestable。（可能由ATPG constrant導致）
UD：undetect 待具體查詢手冊

coverage how to caculate

coverage分為了兩大類：
Fault coverage and test coverage
F.C=(DT+PD因子)/full
T.C=(DT+PD因子)/testable

注意的是第二個公式相當于Full減掉哪些untest的點。

report faults

根據報告來提高coverage

Coverage Analysis

根據項目經驗來看，大概有以下幾類原因導致了coverage過低：
1、full scan or not
確定所有的scanFF都要串接到chain上
2、ATPG constranints
AU的fault是否較多
3、ATPG limitation
combination logic非常深，影響ATPG的效果，
4、Special design
1、test point
增加test point就是增加control point 和obseve point，也就是增加和PPI和PPO

ATPG pattern validation

• chain pattern simulation
• scan pattern simulation
• serial simulation VS parallel simulation
• back annotation with SDF

在parallel simulation中，通過一個pulse clk的動作就能把值并行鎖存到scancell中，完成shift這個過程，然后再進行capture動作，此時也不需要進行shift out，直接在scan cell內部中觀察PPO的值。

帶SDF是非常耗時的

腳本實驗部分由于采取的mentor ，現在還用不上截止93分 ATPG practice II

總結

以上是生活随笔為你收集整理的ATPG Practice ATPG Practice II的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

如果覺得生活随笔網站內容還不錯，歡迎將生活随笔推薦給好友。