主要有四種ESD測試組合：

一.輸入/輸出 pin相對于VDD/VSS測試。

注解：

（1）所有輸入/輸出PAD相對于地的正向ESD脈沖測試。

（2）所有輸入/輸出PAD相對于地的負向ESD脈沖測試。

（3）所有輸入/輸出PAD相對于電源的正向ESD脈沖測試。

（4）所有輸入/輸出PAD相對于電源的負向ESD脈沖測試。

二. Pin to Pin ESD測試

注解：

（1）每一個輸入/輸出相對于其他所有的輸入/輸出的正向ESD脈沖測試。

（2）每一個輸入/輸出相對于其他所有的輸入/輸出的負向ESD脈沖測試。

三.?VDD to?VSS ESD測試

注解：

（1）正的ESD電壓出現在VDD腳，此時VSS腳接地，但所有I/O腳皆懸空。

（2）負的ESD電壓出現在VDD腳，此時VSS腳接地，但所有I/O腳皆懸空。

四. Analog Pin ESD測試

在模擬IC內常有差動輸入級（Differential Pair）。如OP的差動輸入級的正負輸入端連接到IC的Pin時，這兩支輸入腳要另外單獨做R電放電測試，以驗證該兩支輸入腳所連接的差動輸入級會不會被靜電放電所破壞。

注解：

（1）正的ESD電壓出現在差動輸入級的正輸入腳位，此時差動輸入級的負輸入腳接地，其他所有I/O腳以及VDD，VSS腳皆懸空。

（2）負的ESD電壓出現在差動輸入級的正輸入腳位，此時差動輸入級的負輸入腳接地，其他所有I/O腳以及VDD，VSS腳皆懸空。

轉載于:https://www.cnblogs.com/springweng/archive/2012/10/09/2716535.html

總結

以上是生活随笔為你收集整理的IC的ESD测试方法的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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