電子元件抗ESD能力測(cè)試方法

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人體和設(shè)備所攜帶的靜電向整機(jī)及電子元件放電時(shí)，由于增加了沖擊性的電磁能量，則產(chǎn)品必須具備一定量ESD耐力。

ESD耐性測(cè)試方法根據(jù)產(chǎn)生靜電的模型，分為以下三種：①HBM、②MM、③CDM。

其中，一般較多用作電容器ESD耐性測(cè)試方法的是HBM。

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①	HBM （Human Body Model：人體模型）	假設(shè)由人體靜電放電時(shí)的測(cè)試
②	MM （Machine Model：機(jī)械模型）	假設(shè)由機(jī)械靜電放電時(shí)的測(cè)試
③	CDM （Charged Device Model：帶電設(shè)備模型）	假設(shè)由帶電設(shè)備靜電放電時(shí)的測(cè)試

總結(jié)

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