STM32内部ADC测量时产生噪声的原因与消除的方法
生活随笔
收集整理的這篇文章主要介紹了
STM32内部ADC测量时产生噪声的原因与消除的方法
小編覺得挺不錯的,現在分享給大家,幫大家做個參考.
首先讓我們來看一張實際項目過程中,測試發現的問題:
每隔1ms 就會起來一個信號,這個信號大概是250ns。
我所使用的芯片是 STM32F103RCT6.使用內部ADC測量電壓,采用定時器觸發采樣,每隔1ms觸發采樣一次。經過分析初步分析,是由于軟件觸發內部ADC采樣的時候引起的噪聲信號,
為了消除該信號,查閱相關文檔,在 【AN2834應用筆記-如何在STM32微控制器中
獲得最佳ADC精度】中的得知:
消除噪聲的解決方法是,在ADC的引腳添加一個電容,用于消除噪聲,由于我的電路圖中并沒有添加這個電容:
該引腳直接連接到了MCU中,并未添加電容進行濾波消除抗干擾,所以才導致上述問題,修改后,正常!
總結
以上是生活随笔為你收集整理的STM32内部ADC测量时产生噪声的原因与消除的方法的全部內容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。
- 上一篇: 移动端推送系统
- 下一篇: 同心拼图(concentric mosa