系統(tǒng)分析師真題__專項(xiàng)：計(jì)算機(jī)系統(tǒng)與配置 2

2.在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中，對(duì)構(gòu)成內(nèi)存的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器進(jìn)行自檢的方法有許多種，其中對(duì)（）一般采用對(duì)其內(nèi)容求累加和進(jìn)行自檢的方法。

A．ROM

B．DRAM
C．SDRAM
D．DDR SDRAM

測(cè)試ROM的方法是累加各存儲(chǔ)單元數(shù)值并與校驗(yàn)和比較；
測(cè)試RAM的方法是寫(xiě)讀各個(gè)內(nèi)存單元，檢查是否能夠正確寫(xiě)入；
電子產(chǎn)品出廠前需要檢查ROM和RAM硬件是否損：

ROM:軟件和代碼存放在ROM里，ROM出錯(cuò)可能是：
1。電子輻射。
2。長(zhǎng)時(shí)間存放導(dǎo)致存儲(chǔ)失效。
因此可以對(duì)全部程序進(jìn)行CRC校驗(yàn)或者累加和校驗(yàn)(移位累加)，若程序沒(méi)有問(wèn)題則，ROM正常。
RAM:
程序運(yùn)行時(shí)在RAM中運(yùn)行，出錯(cuò)可能原因：
1.數(shù)據(jù)線粘連
2.地址線粘連
3.解除不良或者器件灰塵多
選擇0x55、0xAA數(shù)，依次寫(xiě)入指定的地址單元做測(cè)試

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總結(jié)

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